LCR Pro1/Pro1 Plus: LCR มิเตอร์ขนาดปากคีบที่ขีดความสามารถระดับเครื่องใหญ่ สำหรับงาน SMD

เป็นเครื่องชนิดปากคีบเครื่องแรกของโลกที่มีความละเอียดระดับ 5 digit และ accuracy 0.1%

ปัจจุบันนี้มี LCR มิเตอร์ขนาดปากคีบออกมาหลายรุ่นหลายยี่ห้อ ที่ให้ความสะดวกในการใช้งานแก่ผู้ทำงานในโรงงานประกอบอิเล็กทรอนิกส์ที่ต้องวัดอุปกรณ์ smd ขนาดเล็ก เพราะปลายปากคีบที่เล็กและสามารถวัดค่าขณะคีบไปพร้อมกัน

LCR มิเตอร์แบบปากคีบส่วนใหญ่จะมีความสามารถด้อยกว่าเครื่อง LCR มิเตอร์มือถือ หรือตั้งโต๊ะ เพราะขนาดที่เล็กกว่ากันมากทำให้วงจรเครื่องวัดภายในถูกจำกัดความสามารถ แต่บัดนี้ LCR Pro1 จาก LCR Research ผู้ผลิต LCR ชนิดปากคีบชั้นนำ ได้พัฒนาขึ้นเพื่อให้เทียบเท่าเครื่องรุ่นใหญ่ ทะลุขีดจำกัดของขนาดเครื่องเพื่อตอบสนองการใช้งานที่จริงจังในสายการผลิต การตรวจสอบคัดเลือกคุณภาพวัตถุดิบก่อนเข้าสายพานการผลิต หรือแม้แต่การซ่อมแซมภาคสนามที่ต้องการวัดค่าอุปกรณ์ที่อยู่ในบอร์ด ดังมีความสามารถต่อไปนี้

คุณสมบัติเด่น

• ใช้งานง่ายด้วยมือเดียว มีชอร์ตคัตให้ใช้งานครบทุกฟังก์ชัน
• เลือกโหมดทำงานได้ทั้งแมนนวลและอัตโนมัติสมบูรณ์
• ความแม่นยำสูง – R: 0.1%, L: 0.2%, C: 0.2%
• ทดสอบได้ 5 ความถี่ – 100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz, 100kHz
• แรงดันทดสอบ 3 ระดับ – 0.2Vrms, 0.5Vrms, 1.0Vrms
• มีฟังก์ชันวัดค่าครบทุกอย่าง – R, L, C, Z, ESR, DCR, D, Q, θ และอื่นๆ
• ขนาดเล็ก – 151 x 19 x 15mm
• จอแสดงผล OLED ขนาดใหญ่ – 0.96″, ความละเอียด 128 x 64
• ปลายปากคีบเคลือบทองขนาดเรียวเล็ก แม่นยำ
• ใช้แบตเตอรี่ LiPO ชาร์จไฟผ่านช่อง USB
• เชื่อมต่อ PC ได้ สำหรับควบคุมระยะไกล, โปรแกรมการทำงานและเก็บบันทึกข้อมูล
• มีฟังก์ชันเพิ่มเติม – sorting, recording, วัด diode และ continuity

ความแม่นยำระดับเครื่องตั้งโต๊ะ

Pro1 ถูกออกแบบมาให้มี basic resistance accuracy 0.1%, inductance & capacitance accuracy 0.2% ซึ่งดีพอๆ กับเครื่องตั้งโต๊ะ แสดงผลด้วยจอ OLED ความละเอียด 5 digit ทุกเครื่องมาพร้อม NIST traceable certificate of calibration ดังนั้นจึงสบายใจและมั่นใจได้เมื่อนำไปใช้ในโรงงานที่มีระบบคุณภาพ

ปลายปากคีบเคลือบทองขนาดเรียวเล็ก

ด้วยปลายปากคีบเคลือบทองคำอย่างดีที่เรียวเล็กเป็นพิเศษ Pro1 จึงสามารถคีบอุปกรณ์ smd ได้เล็กมากโดยไม่ต้องกังวลว่าจะไปแตะโดนอุปกรณ์ข้างเคียงที่อยู่ใกล้กันและสำหรับงานคัดค่าของตัวอุปกรณ์นั้น สามารถใช้ Pro1 แทนปากคีบอุปกรณ์ได้เลย ซึ่งจะวัดและแสดงผลไปในขณะคีบเพื่อคัดแยกตามค่าแต่ละตัว

ปุ่มที่ควบคุมได้มากขึ้น

เนื่องจากโหมดการทำงานมีตัวเลือกให้ตั้งค่าต่างๆ มากขึ้น Pro1 จึงได้เพิ่ม navigation button เพื่อเลื่อนขึ้นลงและเลือกค่าแยกกัน 3 ปุ่มให้ปรับตั้งค่าได้รวดเร็ว ตอบสนองต่อการกดทั้ง click, double click และ hold

รองรับการเชื่อมต่อกับ PC เพื่อบันทึกผลการวัดจำนวนมากเพื่อการวิเคราะห์และออกเอกสารรายงาน

Pro1 มีออปชั่น PC communication ให้เลือกซื้อเพิ่มเมื่อต้องการ เพื่อเป็นตัวเชื่อมต่อกับคอมพิวเตอร์ PC ทาง USB และมีซอฟต์แวร์ GUI Data Logger ซึ่งสามารถดาวน์โหลดได้ฟรีจากเว็บของ LCR Research โดยซอฟต์แวร์นี้จะเป็นตัวช่วยปรับตั้ง Pro1 อย่างละเอียดและช่วยดาวน์โหลดข้อมูลค่าผลการวัดที่เก็บในหน่วยความจำของ Pro1 มาลง Excel โดยสามารถคัดกรองค่าที่ผิดพลาดจากการคีบไม่แน่นต่างๆ ออกก่อนได้และสามารถตั้งค่าการวัดอย่างละเอียดได้อีกมากเทียบเท่าซอฟต์แวร์ของ LCR มิเตอร์ขนาดใหญ่

วัดอุปกรณ์ได้แม้อยู่ในวงจร

ก่อนหน้านี้ LCR Research มีรุ่น Elite1 ที่เน้นการวัดอุปกรณ์นอกวงจร จึงเหมาะสมกับการคัดแยกอุปกรณ์เดี่ยวๆ ก่อนการประกอบเท่านั้น แต่ Pro1 รุ่นใหม่นี้ได้เพิ่มความสามารถในการวัดที่ไม่มีในรุ่นก่อนอีกหลายอย่าง อาทิ

• Z (impedance)
• D (dissipation factor)
• Q (quality factor)
• ESR (equivalent series resistance)
• DCR (direct current resistance)
• Diode
• Test frequency: 100, 120, 1000, 10k, 100k Hz
• Test voltage: 0.2, 0.5, 1 Vrms

เหล่านี้ทำให้การวัดค่าอุปกรณ์ต่างๆ แม้อยู่ในวงจรเป็นไปได้และมีผลการวัดใกล้เคียงกับการถอดออกมาวัดมากขึ้น ซึ่งทั้งนี้ขึ้นกับการพลิกแพลงการวัดของช่าง หรือวิศวกรภาคสนามด้วย เช่น

กรณีการวัด capacitor ที่อยู่ในวงจรแล้วขนานกับ diode มีวิธีการวัดดังนี้

1. วัดด้วย test frequency และ voltage ปกติ
2. เมื่อพบว่าผลการวัดแสดงเป็น diode, ให้ลด test voltage ลงเป็น 0.5 หรือ 0.2 v จนกว่าผลของ diode หายไป
3. Pro1 จะแสดงค่า capacitance ได้บนจอ
4. เปรียบเทียบค่า capacitance ที่อ่านได้ ระหว่าง test voltage 0.5v กับ 0.2v แล้วหาค่าโดยประมาณ